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전자 현미경 [COXEM EM-30]

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전자 현미경
COXEM EM-30

◈ 개 요

Benchtop SEM

EM-30은 가장 기본적인 SEM 시스템으로써 SE 검출기를 기본으로 내장하여 제공합니다.

BSE 검출기 및 EDS는 옵션으로 추가 가능합니다.

100K의 배율과 15nm의 분해능을 제공하는 스탠다드 한 Benchtop SEM으로

기본에 충실하며 가성비 또한 높은 제품입니다.

◈ 특 징

◈ 스 펙

	EM-30	EM-30AX
Magnification	20-100,000X
Spatial Resoultion	<15nm
Acclertion Voltge	1 - 30kV (adjustable in 1kV scale)
Electron Source	Pe-Centered Tungsten Filament
Detector	SED(DP)	SED(DP),EDS
Sample Size	70mm (W) x 45mm (H)
X-Y/T Traverse	35x35mm / 0 - 45˚
Featuress	Measurement Tool Remote Control
Automation	Focus, Filament, Brightness/Contrast
Data Output Format	jpg, tiff, BMP
Dimensions	400 x 600 x 550mm
Weight	85 kgs	95 kgs
Options	BSED CoolStage
	30mm Active Size Compact Type EDS (Particle analysis) 30mm Active Size Co mpact Type EDS (MPO included)